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產(chǎn)品名稱:場發(fā)射掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品型號:Sigma 360

產(chǎn)品品牌:Zeiss 蔡司

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  • 產(chǎn)品詳情

Sigma 360 場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)

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蔡司Sigma系列產(chǎn)品集場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)技術(shù)與良好的用戶體驗于一體,可輕松實現(xiàn)成像和分析程序,提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質(zhì)量監(jiān)測,或用于生物和地質(zhì)樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓,在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學設(shè)計可執(zhí)行高級顯微分析,以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。

 

使用Sigma系列,暢游高端納米分析世界。

● Sigma 360 — 一款直觀的成像和分析FE-SEM,是分析測試平臺的理想之選。

● Sigma 560 — 采用先進的EDS幾何學設(shè)計,可提供高通量分析,實現(xiàn)自動原位實驗。